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检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:微电子器件 标准:MIL-STD-1580B-2014GJB4027B-2021 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:PIND 检测样品: 标准:
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:声学扫描显微镜检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB4027A-2006《 军用电子元器件破坏物理分析方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:石英晶体元件 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测试验(PIND) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:电位器 标准:非线绕预调电位器总规范GJB918-1990 线绕预调电位器总规范 GJB917-1990
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:多余物检查PIND 检测样品:元器件筛选 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>