电子元器件广泛应用在军事、航空、航天等领域中，在控制、导航和监控等方面起到了重要作用，但元器件内部可动粒子( 颗粒) 却是造成元器件致命失效的一个重要原因—多余粒子在元器件内部腔体中可能造成非预期的短路或开路。如今，随着我国卫星、导弹以及载人天工程的不断进步与发展，对于宇航级的元器件要求必须彻底杜绝内部可动粒子的存在。也就是说，必须经过严格的粒子碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection，PIND)筛选，剔除可能存在多余粒子的元器件，排除隐患。粒子碰撞噪声检测是一种非破坏性试验，试验通过换能器监听是否有多余粒子存在，但对元器件本身并没有直接物理损坏。

PIND 原理

通过对有内腔的密封器件施加适当的机械冲击应力, 使粘附在密封器件腔体内的多余物成为可动多余物, 再同时施加一定的振动应力, 使可动多余物产生位移和振动, 让它与腔体内壁相撞击产生噪声, 再通过换能器来检测产生的噪声, 判断腔体内有无多余物存在。

PIND试验方法

将试验样品最大扁平面借助粘附剂安装在PIND设备的换能器上，先施加100士200g,延续时间不大于100μS冲击脉冲,再施加频率

40-250Hz,峰值20g 的振动,随后再使冲击应力与振动应力同时施加或单独施加振动应力,上述循环过程交替进行一定次数。振动频率选择是要使多余物在碰撞过程中产生的能量最大,即多余物的振动要达到共振,这与器件的内腔高度有关,不同腔体高度的器件在多余物碰撞过程中产生的共振点是不同的。

PIND试验时应注意的问题

1、引线颤动

2、粘附剂

3、冲击脉冲控制

4、分析噪音产生原因

5、正确安装样品

6、设备灵敏度

影响PIND试验有效性的因素

1、设备校准/ 检定状态、设备安装、运行状态稳定性

2、试验时的环境( 噪声、电磁干扰）

3、操作人员的技巧、经验、身体状态

4、粒子成分、形状、尺寸、质量

5、测试程序及方法

6、试验时器件的正确安装

7、被测器件的类型（金属盖板的要比玻璃封装易探出粒子）