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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:残余石英含量 检测样品:耐火材料参数 标准:硅砖定量相分析 X射线衍射法YB/T 172-2000
检测项:岩相分析 检测样品:黏土质耐火砖 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
检测项:粒度(筛分析) 检测样品:耐火材料参数 标准:致密耐火浇注料 筛分析试验方法 YB/T 5204-1993
机构所在地:山东省淄博市 更多相关信息>>
检测项:X射线衍射物相分析 检测样品:非金属矿原料 标准:转靶多晶体X射线方法通则 JY/T 009-1996
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《非金属矿中石棉的定性方法 X射线衍射-显微镜观察法 》SN/T 2731-2010
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《用X射线衍射蛇纹石石棉检测方法》 NIOSH 9000:1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:铜片腐蚀 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品硫的标准测试方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品硫的标准测试方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:江苏省太仓市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:电子电工产品 标准:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998
检测项:X射线检查 检测样品:发光二极管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法MIL-STD-1580B
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:磷 检测样品:煤炭 标准:X射线荧光光谱法测定煤灰和焦炭灰中的主次元素含量 ASTMD 4326-11
检测项:磷 检测样品:磷矿石 标准:X射线荧光光谱法测定煤灰和焦炭灰中的主次元素含量 ASTMD 4326-11
检测项:铁、镁、铝、钙、硅 检测样品:锰矿 标准:铬矿中铬、硅、铁、铝、镁、钙的测定 波长色散X射线荧光光谱法 SN/T 1118-2002
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:X射线照相检验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:X射线照相检验 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:运输试验 检测样品:携带式工业X射线探伤机 标准:携带式工业X射线探伤机 JB/T 7413-1994
检测项:可靠性试验 检测样品:携带式工业X射线探伤机 标准:携带式工业X射线探伤机 JB/T 7413-1994
检测项:运输、运输储存试验 检测样品:固定式(移动式)工业X射线探伤机 标准:固定式(移动式)工业X射线探伤机 JB/T 7412-1994
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:X射线CT检测 检测样品:印制线路板 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
检测项:元素分析 检测样品:机械零部件 标准:GB/T 17359-1998《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》
检测项:元素分析 检测样品:电子元器件 标准:GB/T 17359-1998《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》
检测项:硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钼、钛、钴 检测样品:铁矿 标准:不锈钢及合金钢分析方法X—射线荧光光谱法 SN/T 2079-2008
检测项:硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钼、钛、钴 检测样品:金属材料及制品 标准:不锈钢及合金钢分析方法X—射线荧光光谱法 SN/T 2079-2008
检测项:铬、硅、铁、铝、镁、钙 检测样品:铬矿 标准:铬矿中铬、硅、铁、铝、镁、钙的测定波长色散X射线荧光光谱法 SN/T 1118-2002
机构所在地:江苏省常熟市 更多相关信息>>
检测项:扫描电子显微技术和电子束显微分析 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:内部检查 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:电阻器/电容器 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>