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透视摄影X射线机产品描述:通常由X射线发生装置、图像显示系统、患者支撑装置组成,有的配有专用胃肠床、压迫器、点片装置、体层摄影装置等,是用于辅助胃肠诊断,兼有摄影和透视功能的X射线设备。使用时一般通过透视动态图像锁定感兴趣区,而后用较大剂量摄影得到该区域清晰的静态图像。 预期用途:用于常规、胃肠道透视摄影检查,且带有数字减影血管造影和/或数字化体层摄影功能,获得影像供临床诊断用。 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月06日
检测项:覆盖层厚度测量 检测样品:覆盖层厚度测量 标准:金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
检测项:金、银、钯、铂含量分析 检测样品:金属成分分析 标准:首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008
检测项:铅、汞、镉、铬、溴的测定 检测样品:铅、汞、镉、铬、溴的测定 标准:电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T 2003.1-2005
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:SiO2、CaO、 MgO、TFe 、Al2O3 检测样品: 标准:炉渣X射线荧光光谱分析方法 YB/T4177-2008
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:铅、汞、镉、总铬、总溴筛选 检测样品:玩具涂层 标准:使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬、总溴进行筛选IEC 62321-3-1-2013
检测项:铅、汞、镉、总铬和溴的筛选 检测样品:电子电气产品涂层 标准:电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法SN/T 2003.5-2006(2010)
检测项:部分项目 检测样品:调色系统用色浆 标准:调色系统用色浆GB/T 21473-2008
检测项:HIV抗体 检测样品:血清抗体 标准:医用X射线诊断放射防护要求 GBZ130-2013
检测项:空气比释动能率 检测样品:辐射防护 标准:工业X射线探伤放射卫生防护标准GBZ117-2006
检测项:细菌总数 检测样品:集中空调通风系统 标准:公共场所集中空调通风系统卫生规范WS 394-2012附录D
机构所在地:内蒙古自治区呼和浩特市 更多相关信息>>
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电器产品 标准:电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 GB/Z 21277-2007
检测项:可溶性元素 (砷,锑,钡,镉,铬,铅,汞,硒) 检测样品:玩具及儿童产品 标准:能量色散X-射线荧光光谱法测定油漆及类似表面涂层或基材中铅含量的标准操作程序 ASTM F2853-10e1
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电器产品 标准:电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T 2003.4-2006(2010)
检测项:硫含量 检测样品:铝土矿 标准:GB/T 17606-2009原油中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
检测项:残炭 检测样品:铝土矿 标准:GB/T 17040-2008 石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
机构所在地:山东省莱州市 更多相关信息>>
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法) GB/T 17040-2008
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:用能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品中硫的试验方法ASTM D4294-10
检测项:博士试验 检测样品:石油产品 标准:汽油、煤油、航空汽轮机燃料及馏出燃料中(硫醇态)硫含量的试验方法(电位法) ASTM D3227-04a(2010)
检测项:硅 检测样品:铁矿石 标准:GB/T 6730.62-2005 铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光谱法
检测项:硫 检测样品:硅钙合金 标准:GB/T 223.79-2007 钢铁 多元素含量的测定 X射线荧光光谱(常规法)
检测项:硅 检测样品:硅钙合金 标准:GB/T 223.79-2007 钢铁 多元素含量的测定 X射线荧光光谱(常规法)
机构所在地:湖南省衡阳市 更多相关信息>>
检测项:金属点阵常数 检测样品:涂层 标准:YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法-X射线衍射仪法
检测项:钢中残余奥氏体含量 检测样品:涂层 标准:YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定-X射线衍射仪法
检测项:覆盖层厚度 检测样品:涂层 标准:GB/T 16921-2005金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
机构所在地:北京市 更多相关信息>>