官方微信
您当前的位置:首页 > X射线照相检验
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:镀层结合强度 检测样品:装具 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T16921-2005
检测项:耐摩擦色牢度 检测样品:纺织品 标准:纺织品 色牢度试验 第X12部分:耐摩擦色牢度 ISO 105-X12-2001
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:硫化橡胶或热塑性橡胶 标准:《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则》GB/T17359–1998
检测项:六价铬 检测样品:电子电工产品及原料 标准:《电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法》 GB/Z 21277-2007
检测项:铅、汞、镉、铬、溴 检测样品:电子电工产品及原料 标准:《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法》 SN/T 2003.1-2005(2009)
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:X射线无损检测 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:X射线无损检测 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序
检测项:残余石英 检测样品:耐火材料 物理性能 标准:X射线衍射法 YB/T 172-2000
检测项:全部化学分析参数 检测样品:铝硅系 耐火材料 标准:耐火材料 X射线荧光光谱分析-熔铸玻璃片法 ISO 12677-2003
检测项:残余石英 检测样品:耐火材料 物理性能 标准:硅砖定量相分析 X射线衍射法 YB/T 172-2000
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:金 银 铂 钯 检测样品:贵金属 首饰 标准:首饰 贵金属含量的检测方法 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008
检测项:金 银 铂 钯 检测样品:金精矿(金矿石) 标准:首饰 贵金属含量的检测方法 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008
检测项:抽样 检测样品:金精矿(金矿石) 标准:贵金属饰品计数抽样检验规则GB/T14459-2006
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:X射线能谱定量分析 检测样品:金属材料及其制品 标准:GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析
检测项:整车装配调整和外观质量 检测样品:汽车 标准:QC/T 900-1997 汽车整车产品质量检验评定方法 GB 7258-2012 机动车运行安全技术条件
检测项:发动机性能 检测样品:发动机 标准:GB/T 18297-2001 汽车发动机性能试验方法 QC/T 901-1998 汽车发动机产品质量检验评定方法
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:金属厚度 测量 检测样品:电工电子产品 标准:金属镀涂层厚度测量方法 SJ20129-1992
检测项:表面防护检验 检测样品: 标准:
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:GB/T 17040-2008 石油和石油产品硫含量的测定 能量色散x射线荧光光谱法
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:SH/T 0742-2004 汽油中硫含量测定法(能量色散x射线荧光光谱法)
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:射频功率与信号接口 检测样品:非接触集成电路射频卡及其受理设备 标准:ISO/IEC 10373-1: 2006不测:抗X射线、静磁场、粘连或并块
检测项:初始化和防冲突 检测样品:磁条卡及其受理设备 标准:ISO/IEC 10373-1: 2006不测:抗X射线、静磁场、粘连或并块
检测项:传输协议 检测样品:磁条卡及其受理设备 标准:ISO/IEC 10373-1: 2006不测:抗X射线、静磁场、粘连或并块
检测项:空气比释放能率 检测样品:辐射 标准:医用X射线诊断卫生防护监测规GBZ138-2002 4.2/4.3
检测项:总悬浮颗粒物 检测样品:空气和废气 标准:可吸入颗粒物的测定 Beta射线法《空气和废气监测分析方法》(第四版)国家环保总局 (2003)3.4.2.6
机构所在地:江苏省南通市 更多相关信息>>