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口腔检查灯产品描述:通常由照明装置和检测观察装置组成。照明装置通常包括照明手柄、电源、患者护目镜;检测观察装置通常包括观察镜。 口腔检查灯预期用途:用于口腔照明及检测观察,并且辅助增强口腔检查中粘膜异常和口腔病变的可视化程度。 口腔检查灯品名举例:口腔检查灯 口腔检查灯管理类别:Ⅱ 口腔灯产品描述:通常由灯头、角度调节手柄和灯臂组成。可连接...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月08日
检测项:VF-正向电压 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)
检测项:V(BR):雪崩整流二极管和可控雪崩整流二极管的击穿电压 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:元器件可焊性测试 检测样品:整流二极管 标准:引線、端子、焊片、接線柱和導線的可焊性測試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:品质因数 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
检测项:正向电压VF 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条
检测项:反向漏电流 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:反向电压 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:反向电流 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:饱和压降 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997
检测项:电流传输比 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997
检测项:上升下降时间 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管GB/T4023-1997
检测项:密封性 检查 检测样品:二极管 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项:低温贮存 检测样品:二极管 标准:有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出电流调整率 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997
检测项:纹波抑制比 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997
检测项:输出噪声电压 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:基横模 检测样品:半导体激光器 标准:SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项:输出能量 检测样品:半导体激光器 标准:SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项:正向电压 检测样品:半导体激光器 标准:SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项:集电极-基极电流 检测样品:整流二极管 标准:GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管
检测项:集电极-发射极电流 检测样品:整流二极管 标准:GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管
检测项:发射极-基极电流 检测样品:整流二极管 标准:GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>