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口腔检查灯产品描述:通常由照明装置和检测观察装置组成。照明装置通常包括照明手柄、电源、患者护目镜;检测观察装置通常包括观察镜。 口腔检查灯预期用途:用于口腔照明及检测观察,并且辅助增强口腔检查中粘膜异常和口腔病变的可视化程度。 口腔检查灯品名举例:口腔检查灯 口腔检查灯管理类别:Ⅱ 口腔灯产品描述:通常由灯头、角度调节手柄和灯臂组成。可连接...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月08日
检测项:结构 检测样品:发光二极管(LED)显示屏 标准:发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T11281-2007
检测项:2hr容量 检测样品:发光二极管(LED)显示屏 标准:发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T11281-2007
检测项:大电流放电特性 检测样品:发光二极管(LED)显示屏 标准:发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T11281-2007
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:电流调整率SI 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》
检测项:正向电压VF 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》
检测项:静态电流ID及静态电流变化△ID 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:光透射比 检测样品:半导体红外发光二极管 标准:SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法
检测项:输出光功率 检测样品:半导体红外发光二极管 标准:SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:线路总功率 检测样品:发光二极管 标准:普通照明用发光二极管性能要求 QB/T4057-2010
检测项:电源电流 检测样品:发光二极管 标准:普通照明用发光二极管性能要求 QB/T4057-2010
检测项:能效等级 检测样品:发光二极管 标准:普通照明用发光二极管性能要求 QB/T4057-2010
检测项:反向漏电流 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 Ⅳ章 测试方法
检测项:稳压管工作电压 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 Ⅳ章 测试方法
检测项:稳压管动态电阻 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 第Ⅳ篇 测试方法 1.3
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:基极-发射极饱和电压 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项:集电极-发射极饱和电压 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项:集电极-基极电流 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极击穿电压V(BR)CBO 检测样品:二极管 标准:《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
检测项:发射极-基极击穿电压V(BR)EBO 检测样品:二极管 标准:《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:频率 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:反向电流 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:光通量和光通量效率 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:辐射通量和辐射效率 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:二极管特性曲线 检测样品:半导体 二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:正向压降 检测样品:半导体 二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>