交流共模抑制能力检测实验

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅲ

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生弱激光（小于等于GB 7247标准的3R），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅱ

激光扫描检眼镜相关标准：

1、YY/T 1036-2004 压陷式眼压计
2、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机
3、YY/T 0633-2008 眼科仪器间接检眼镜

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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华东电子测量仪器研究所电子仪器产品质量检验中心

检测项：交流共模抑制能力检测样品：直流数字电压表标准：数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008

检测项：共模干扰抑制能力实验检测样品：直流数字电压表标准：数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008

检测项：串模干扰抑制能力实验检测样品：直流数字电压表标准：数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008

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北京无线电计量测试研究所

检测项：共模干扰抑制能力试验检测样品：多功能校准器标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：串模干扰抑制能力试验检测样品：多功能校准器标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：插入损耗检测样品：电源滤波器标准：10kHz～30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法 GB/T7343-1987

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：直流电压共模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：直流电压串模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：部分项目检测样品：电烤箱、面包烘烤器、华夫烙饼模及类似用途器具标准：家用和类似用途电器的安全电烤箱、面包烘烤器、华夫烙饼模及类似用途器具的特殊要求 GB 4706.14—2008

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：电源电压抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D 、D/A转换器标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：模拟开关标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：共模抑制比（误差放大器）KCMR 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

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上海精密计量测试研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：模拟乘法器标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：模拟乘法器标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

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北京东方计量测试研究所

检测项：直流电压功能共模干扰抑制比检测样品：多功能校准源标准：GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

检测项：直流电压功能共模干扰抑制比检测样品：多功能校准源标准：GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

检测项：直流电压功能共模干扰抑制比检测样品：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪标准：GB/T 13639-1992工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：共模抑制比检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：电源电压抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

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中国测试技术研究院

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：长度检测样品：建筑物通信光纤布线系统（单模、多模）标准：综合布线系统工程验收规范 GB 50312-2007

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：共模抑制比检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

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