交流共模抑制能力检测实验

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅲ

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生弱激光（小于等于GB 7247标准的3R），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅱ

激光扫描检眼镜相关标准：

1、YY/T 1036-2004 压陷式眼压计
2、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机
3、YY/T 0633-2008 眼科仪器间接检眼镜

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：共模抑制比(CMRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：电源电压抑制比(PSRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：纹波抑制比 (SRIP) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

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国家广播电影电视总局广播科学研究院广播电视检测中心

检测项：共模抑制检测样品：视频矩阵标准：GB/T3659-1983《电视视频通道测试方法》GB/T 14236-93《电视中心视频系统和脉冲系统设备技术要求》GY/T 152-2000《电视中心制作系统运行维护规程》

检测项：最小边模抑制比检测样品：模拟光纤放大器标准：GY/T 184-2002《有线电视系统模拟光纤放大器技术要求和测量方法》

检测项：最小边模抑制比检测样品：数字微波接力通信设备标准：GB/T 15841-1995《数字微波通信设备进网技术要求2～8GHz数字微波收发信机》YD/T 904-1997 《SDH微波通信系统测量方法》YD/T 953-1998 《4～11GHz 2×STM-1 SDH微波通信系统总技术要求》

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：共模输入电压范围检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

检测项：部分参数检测样品：温度变送器标准：DDZ一III系列电动单元组合仪表温度变送器 JB/T9267.2-1999

检测项：部分参数检测样品：数字式指示仪标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪 GB/T 13639-2008

检测项：交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度检测样品：电气设备标准：电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验 GB/T 17626.13-2006/ IEC 61000-4-13:2002 电气电子产品型式认可试验指南 GD 01-2006

机构所在地：天津市更多相关信息>>

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中国电工仪器仪表质量监督检验中心

检测项：共模干扰引起的改变量检测样品：电量变送器标准：（1）GB/T13850-1998《交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器》

检测项：接地故障抑制试验检测样品：多用户静止式交流有功电能表标准：（1）JB/T10451-2004多用户静止式交流有功电能表特殊要求

检测项：串模干扰引起的改变量检测样品：电量变送器标准：（1）GB/T13850-1998《交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器》

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：纹波抑制比检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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