您当前的位置:首页 > 低压器件的冲击耐压试验
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108高温寿命试验
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》 方法108高温寿命试验
机构所在地:江苏省连云港市
机构所在地:湖北省孝感市
机构所在地:吉林省长春市