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射线束扫描测量系统产品描述：通常由水箱、控制单元、探测器、控制软件、电缆线等组成。 射线束扫描测量系统预期用途：用于测量射线束在水中的吸收剂量分布和在空气中的比释动能分布，测量结果用于对放射治疗计划系统的数据配置和修改，及放射治疗设备的质量控制。 射线束扫描测量系统品名举例：放射治疗用自动扫描水模体系统 射线束扫描测量系统管理类别：Ⅱ ...查看详情>>
射线束扫描测量系统产品描述：通常由水箱、控制单元、探测器、控制软件、电缆线等组成。收起百科↑ 最近更新：2023年03月03日
检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地：江苏省连云港市
检测项：强度 检测样品：波特兰水泥 标准：硬性水泥抗压强度测定标准方法(用2英寸或50毫米立方试模) ASTM C109/C109M-11
检测项：强度 检测样品：生丝 标准：硬性水泥抗压强度测定标准方法(用2英寸或50毫米立方试模) ASTM C109/C109M-2011
机构所在地：山东省日照市
机构所在地：江苏省苏州市
检测项：电信端口的传导共模骚扰 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010
机构所在地：广东省珠海市
机构所在地：北京市
检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB 17799.3-2001 IEC 61000-6-3：1996
检测项：共模抑制比 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1：1997 电磁兼容 通
机构所在地：四川省成都市
检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
机构所在地：北京市
检测项：后备保护性能检验 检测样品：自动控制装置 标准：输电线路保护装置通用技术条件GB/T 15145-2008;电力系统继电保护产品动模试验 GB/T 26864-2011
机构所在地：辽宁省沈阳市
