光学和传输特性检测实验

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪预期用途：用于获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则： 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。

光学相干断层扫描仪预期用途：
用于获取组织断层面的信息。
光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪

光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ

光学相干断层扫描仪相关指导原则：
1、眼科光学相干断层扫描仪注册技术审查指导原则

光学相干断层扫描仪相关标准：
1、YY/T 0849-2011 眼科高频超声诊断仪
2、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
3、YY/T 1484-2016 眼科仪器眼轴长测量仪

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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中国电子科技集团公司第五十四研究所通信导航设备实验室（石家庄通信测控技术研究所通信导航设备实验室）

检测项：黑白和彩色电视传输的测量检测样品：散射通信设备标准：数字对流层散射通信系统通用规范 GJB883A-2003

检测项：业务速率和传输速率检测样品：散射通信设备标准：数字对流层散射通信系统通用规范 GJB883A-2003

检测项：频分多路复用传输的测量检测样品：散射通信设备标准：数字对流层散射通信系统通用规范 GJB883A-2003

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：电流传输比检测样品：二极管标准：半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：DAC尖峰脉冲特性检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：外部目检和标志检查检测样品：混合集成电路标准：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：绝缘电阻检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：形状和位置公差检测样品：数控机床标准：形状和位置误差检测规定 GB/T 1958-2004

检测项：附着力检测样品：涂料标准：色漆和清漆漆膜的划格试验 GB/T 9286-1998 漆膜附着力测定法 GB/T 1720-1979（1989）

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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济南兰光机电技术有限公司包装安全检测中心

检测项：气体透过率检测样品：塑料薄膜及有关制品标准：用库仑检测器测定氧气传输率、渗透率和穿透屏蔽材料的受控相对湿度的渗透的标准试验方法 ASTM F1927-2007

检测项：部分项目检测样品：包装用聚乙烯吹塑薄膜标准：包装用聚乙烯吹塑薄膜 GB/T 4456-2008

检测项：部分项目检测样品：食品用塑料自粘保鲜膜标准：食品用塑料自粘保鲜膜 GB 10457-2009

机构所在地：山东省济南市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

检测项：振动检测样品：电子和电气产品标准：GB/T2423.56-2006 电工电子产品环境试验规程第3部分:试验方法:试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则；

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：操作电流和电压检测样品：射频开关标准：GB/T13416-1992射频传输线（同轴）开关总规范3.5.8

检测项：时间—电流特性检测样品：恒温继电器标准：GJB1513-1992混合和固体延时继电器总规范4.7.35.5

检测项：连接器连接装置的有效性检测样品：印制板连接器标准：GB/T15157.7-2002频率低于3MHz的印制板连接器第7部分：有质量评定的具有通用安装特性的8位固定和自由连接器详细规范（GB/T5095中15f）

机构所在地：安徽省蚌埠市更多相关信息>>

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

检测项：损耗角正切检测样品：固定电感器标准：《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》 GB/T 8554-1998

检测项：漏电流检测样品：固定电感器标准：《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》 GB/T 8554-1998

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今皓光电（昆山）有限公司检测中心

检测项：线材传输延迟及差异的检测检测样品：标准：电子连接器,线组,内部连接系统使用TDR(时域分析仪)测试讯号传递损失的试验程序 EIA 364-103:2006

检测项：线材特性阻抗检测检测样品：电线电缆标准：电子连接器,线组,内部连接系统使用TDR(时域分析仪)测试阻抗,共模反射,回复讯号损失的试验程序 EIA 364-108:2007

检测项：塑料硬度的量测检测样品：电线电缆标准：塑料硬度特性的标准检测方法 ASTM D 2240-2010

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光学相干断层扫描仪

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