光老炼试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：功率老炼检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功率老炼检测样品：电子元器件标准：(2)半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功率老炼检测样品：电子元器件标准：核电厂安全级仪表和控制设备电子元器件老化筛选和降额使用规定 NB/T 20019-2010

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：老炼检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法　 GJB360B-2009方法107

检测项：老炼检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1010.1

检测项：老炼检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548A方法1010A

机构所在地：安徽省蚌埠市更多相关信息>>

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：高温电老炼检测样品：电容器标准：有可靠性指标的铝电解电容器总规范GJB603-1988 3.9

检测项：高温电老炼检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分:总规范GB/T2693-2001 2.2.24

检测项：高温电老炼检测样品：电容器标准：电子及电气元件测试方法GJB360A-1996 方法108

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国网计量中心

检测项：老炼检测样品：继电器标准：控制用电磁继电器可靠性试验通则 GB/T15510-2008 电子式电能表用磁保持继电器 JB/T10923-2010

检测项：安全性试验检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：低温试验检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

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北京尊冠科技有限公司

检测项：1038 老炼（二极管、整流管、稳压管）检测样品：半导体器件标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

检测项：1039 老炼（晶体管）检测样品：半导体器件标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

检测项：老炼试验检测样品：晶体振荡器标准：GJB 1648-93 《晶体振荡器总规范》

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：电功率老炼检测样品：元器件筛选标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

检测项：初始频率温度精度检测样品：元器件筛选标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

检测项：密封性检测样品：元器件筛选标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：老炼试验检测样品：钽电容器标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验检测样品：钽电容器标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验检测样品：电子设备、产品标准：有可靠性指标的固体电解质钽电容总规范 GJB63B-2001

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：老炼试验检测样品：电阻器标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

检测项：老炼试验检测样品：闸流晶体管标准：SJ/Z9014.3-1987半导体器件分立器件和集成电路第６部分：闸流晶体管

检测项：盐雾试验检测样品：电子和电气产品标准：GJB150.2A-2009军用设备环境试验方法低气压（高度）试验；

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：老炼试验检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

检测项：低温试验检测样品：电子电器产品标准：电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验A：低温 GB/T2423.1-2008

检测项：间歇寿命试验检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：温度，反偏和操作寿命试验 JESD22-A108D:2010

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功率老炼检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：老化检测样品：数控机床标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1 老炼试验；半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法1038、1039、1040、1042 半导体

检测项：部分参数检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215-1982

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

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