光老炼试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：老炼试验检测样品：微波组件标准：《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996

检测项：湿热试验（恒定）检测样品：电工电子设备（电工电子、汽车、轨道交通、核电）标准：《地面用晶体硅光伏组件》GB/T9535-1998

检测项：低温试验检测样品：电工电子设备（电工电子、汽车、轨道交通、核电）标准：《家用太阳能光伏电源系统技术条件和试验方法》GB/T19064-2003

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2052

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法217

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2052

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：老炼和寿命试验（功率场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：老炼试验检测样品：微电子器件标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

检测项：老炼(二极管、整流管和稳压管) 检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

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上海精密计量测试研究所

检测项：高温电老炼检测样品：微电子器件标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：高温电老炼检测样品：瓷介电容器标准：GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A－1997

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法217

检测项：老炼试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B－2009

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：老炼试验检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：热真空检测样品：电子、电工产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BM:高温/低气压综合试验》 GB/T2423.26-2008

检测项：温度-高度检测样品：电子、电工产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AM:低温/低气压综合试验》 GB/T2423.25-2008

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：老炼（二极管、整流管和稳压管）检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：老炼检测样品：电子元器件标准：GJB 128A-1997《半导体分立器件试验方法》

检测项：老炼检测样品：电子元器件标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程》序

检测项：湿热试验检测样品：军工及民用（航空、航天、兵器和船舶）电气、电子和机械类产品标准：GB/T2423.26-2008《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BM：高温/低气压综合试验》

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：高温电老炼检测样品：电容器标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009

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检测项：温度-高度试验检测样品：军用设备、民用电子、电器产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AM：低温/低气压综合试验 GB/T2423.25-2008，电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T2423.26-2008

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：功率老炼检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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检测项：功率老炼检测样品：电子元器件标准：核电厂安全级仪表和控制设备电子元器件老化筛选和降额使用规定 NB/T 20019-2010

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