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激光扫描检眼镜产品描述:通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光(GB 7247标准的3B、4),并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。 激光扫描检眼镜预期用途:用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。 激光扫描检眼镜品名举例:激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜 激光扫描...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:天线端射频电压(共模)抗扰度 检测样品:声音和电视广播接收机及有关设备 标准:声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 GB13837-2012 CISPR 13-2009
检测项:浪涌(冲击)(共模/差模) 检测样品:固定无线链路设备及其辅助设备 标准:固定无线链路设备及其辅助设备的电磁兼容性要求和测量方法 YD/T1138-2006
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:浙江省乐清市
检测项:辐射磁场骚扰 检测样品:微波炉(1GHZ以上) 标准:微波炉在1GHZ以上的辐射干扰测量 GB/T16607-1996 CISPR 19-1983
机构所在地:广东省深圳市
检测项:0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度 检测样品:电工电子产品(电磁兼容) 标准:电磁兼容 试验和测量技术0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验 GB/T 17626.16-2007
机构所在地:江苏省南京市
检测项:部分参数 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000
检测项:部分参数 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地:湖北省孝感市
机构所在地:上海市
检测项:共模抑制比KCMR 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:干扰信号中心频率与带宽 检测样品:无线电设备 标准:GJB2079-1994《无线电系统间干扰的测量方法》
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:电信端口的传导共模骚扰 检测样品:电气照明和类似设备 标准:电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法 CISPR 15:2013
机构所在地:北京市
检测项:共模抑制比 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:共模抑制比 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市