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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:共模干扰抑制能力实验 检测样品:直流数字 电压表 标准:数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008
检测项:交流共模抑制能力 检测样品:直流数字 电压表 标准:数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008
检测项:串模干扰抑制能力实验 检测样品:直流数字 电压表 标准:数字多用表通用技术条件GB/T 13978-2008
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:直流电压共模干扰抑制能力 检测样品:数字多用表 标准:数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008
检测项:直流电压串模干扰抑制能力 检测样品:数字多用表 标准:数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008
检测项:电源适应能力试验 检测样品:手持式个人信息处理设备 标准:信息技术 手持式信息处理设备通用规范 GB/T 18220—2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:直流电压功能共模干扰抑制比 检测样品:多功能校准源 标准:GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件
检测项:直流电压功能共模干扰抑制比 检测样品:工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪 标准:GB/T 13639-1992工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪
检测项:共模抑制比 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:共模抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:电源电压抑制比 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:共模抑制比 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:电源电压抑制比 检测样品:CMOS电路 标准:GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:电源电压抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:共发射正向电流传输比 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:共模干扰影响 检测样品:电子、电器产品(电磁兼容) 标准:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006 IEC 61000-4-2:2008
检测项:共模干扰影响、 串模干扰影响、 外磁场干扰影响 检测样品:气体腰轮流量计 标准:《气体腰轮流量 计》 JB/T 7385-1994
检测项:串模干扰影响 检测样品:电子、电器产品(电磁兼容) 标准:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006 IEC 61000-4-2:2008
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:容积式流量计 标准:容积式流量计通用技术条件JB/T 9242-1999
检测项:0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验 检测样品:军用设备和分系统 标准:电磁兼容 试验和测量技术0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T 17626.16-2006 EN 61000-4-16:2009 IEC 61000-4-16:2009 安全相关仪控系统中电磁干扰和射频
检测项:共模、串模抗扰度试验 检测样品:信息技术设备;家用电器;电信设备;声音和电视广播设备;工科医设备;照明灯具和其它电子设备 标准:工业自动化仪表通用试验方法 第1部分:共模、串模抗扰度试验JB/T 6239.1-2007
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:共模抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:电源电压抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>