共模干扰抑制能力试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

检测项：部分参数检测样品：数字式指示仪标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪 GB/T 13639-2008

检测项：部分参数检测样品：温度变送器标准：DDZ一III系列电动单元组合仪表温度变送器 JB/T9267.2-1999

检测项：湿热试验检测样品：电气设备标准：电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法 GB/T 2423.3-20

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：全部项目检测样品：发射机及控制设备标准：《压制性雷达干扰通用规范》GJB2088A-2002

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：电源电压抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D 、D/A转换器标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：模拟开关标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

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上海精密计量测试研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

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中国测试技术研究院

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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检测项：共模抑制比检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出共模抑制比检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：电源电压抑制比检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：高温试验检测样品：军用设备和分系统标准：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

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检测项：电压尖峰试验检测样品：机载设备标准：高压架空输电线、变电站无线电干扰测量方法 GB 7349-2002

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