您当前的位置：首页 > 共模抑制比CMRR
激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。 激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。 激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜 激光扫描...查看详情>>
激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日
检测项：共模抑制比 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T 6798-1996
检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>
检测项：偏振模色散 检测样品：光缆及通信电缆试验方法 标准：GB/T 18900-2002《单模光纤偏振模色散的试验方法》
检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：烤架、面包片烘烤器及类似用途便携式烹饪器具 标准：GB4706.14-2008 家用和类似用途电器的安全 电烤箱、面包烘烤器、华夫烙饼模及类似用途器具的特殊要求
检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》
机构所在地：北京市
检测项：共发射极正向电流传输比的静态值h21E 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管
机构所在地：河北省石家庄市
检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地：河南省洛阳市
