共模抑制比CMRR 检测实验

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅲ

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生弱激光（小于等于GB 7247标准的3R），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅱ

激光扫描检眼镜相关标准：

1、YY/T 1036-2004 压陷式眼压计
2、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机
3、YY/T 0633-2008 眼科仪器间接检眼镜

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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贵州航天计量测试技术研究所

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检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：模拟开关标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

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中国测试技术研究院

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：共模抑制比检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

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北京尊冠科技有限公司

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

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