内部目检检测实验

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜直接检眼镜管理类别：Ⅱ 直接检眼镜相关指导原则： 1、直接检眼镜注册技术审查指导原则直接检眼镜相关标准： 1 ...查看详情>>

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。

直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。

直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜

直接检眼镜管理类别：Ⅱ

直接检眼镜相关指导原则：
1、直接检眼镜注册技术审查指导原则

直接检眼镜相关标准：
1 . GB 9706.1—2007 医用电气设备第1部分：安全通用要求
2 . GB/T 14710—2009 医用电器环境要求及试验方法
3 . YY 1080—2009 眼科仪器直接检眼镜
4 . YY 0505—2012 医用电气设备第1—2部分：安全通用要求并列标准：电磁兼容要求和试验
5 . YY/T 0316—2016 医疗器械风险管理对医疗器械的应用
6 . ISO 15004-2:2007 Ophthalmic instruments -- Fundamental requirements and test methods -- Part 2: Light hazard protection
7 . 眼科手术器械基本要求和试验方法第2部分：光危害防护
8、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机

收起百科↑ 最近更新：2023年04月27日

搜索条件所在地区: 所属类别:

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：内部目检检测样品：谐振器标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：内部目检检测样品：通信连接器标准：电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010

检测项：内部目检检测样品：谐振器标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：内部目检和结构检查检测样品：标准：

检测项：内部目检和结构检查检测样品：标准：

检测项：密封(细检) 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海精密计量测试研究所

检测项：开帽内部设计目检检测样品：微电子器件标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：内部目检（单片）检测样品：微电子器件标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：内部目检（混合电路）检测样品：微电子器件标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查检测样品：电子元器件标准：GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：外部检查检测样品：电子元器件标准：GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：内部检查检测样品：电子元器件标准：GJB 128A-1997《半导体分立器件试验方法》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：内部目检检测样品：电子元器件/电工电子产品标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：内部目检检测样品：电子元器件/电工电子产品标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：外部目检检测样品：塑封微电子器件标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：内部目检检测样品：军用及民用标准件标准：《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990

检测项：目检检测样品：印制板标准：《汽车GPS导航系统通用规范》GB/T19392-2013

检测项：外部目检检测样品：军用及民用标准件标准：《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：内部目检检测样品：电子元器件及设备物理性能试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4

检测项：内部目检检测样品：军用电子元器件破坏性物理分析标准：1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4、GJB 360A-1996 电子及

检测项：内部目检检测样品：电子元器件及设备物理性能试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 5、G

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：外部目检检测样品：标准：

检测项：外部目检检测样品：标准：

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：外部目检检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

检测项：静态参数检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

检测项：动态参数检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：外部目检检测样品：电子元器件标准：《微电子器件试验方法和程序》方法 2009.1 外部目检 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

直接检眼镜

简介

直接检眼镜

简介

中兴通讯股份有限公司材料实验室

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

上海精密计量测试研究所

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务