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检测项：全部项目 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：GB/T 20275-2006《信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项：导通态漏电流IDS(on) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项：功耗PD 检测样品：低频电连接器 标准：低频电连接器复验技术条件 Q/QJB 156-2008
检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：静态电源电流 ID 检测样品：A/D转换器 标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：漏电流Id 检测样品：电感器 标准：GB/T16512-1996 电子设备用固定电感器总规范
检测项：截止态漏级漏电流ID（off） 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：导通态漏电流IDS（on ） 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：邮件过滤 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：邮件处理 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：安全审计 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：开机功耗 检测样品：功耗测量 标准：音视频设备和相关设备的功耗测试方法 IEC 62087:2008 IEC 62087:2011 EN 62087:2009 AS/NZS 62087.1:2010
检测项：全部项目 检测样品：功耗测量 标准：家用电器产品待机功率测量
检测项：待机功耗 检测样品：空调及热泵产品 标准：房间空气调节器 GB/T7725-2004
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：空闲模式的功耗(W) 检测样品： 标准：
检测项：睡眠模式的功耗(W) 检测样品： 标准：
检测项：关机模式的功耗(W) 检测样品： 标准：GB 28380-2012《微型计算机能效限定值及能效等级》
检测项：5.5 待机功耗 检测样品： 标准：
机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>
检测项：待机功耗 检测样品： 标准：
检测项：关闭状态下的功耗 检测样品：微型计算机 标准：微型计算机能效限定值及能效等级 GB 28380-2012
检测项：空闲状态功耗 检测样品：服务器 标准：服务器节能认证技术规范 CQC 3135-2011
检测项：功耗测量 检测样品：家用电器的待机功耗测量 标准：家用电器 备用电源的测量 IEC 62301: 2005 EN 62301:2005 AS/NZS 62301：2005
检测项：功耗测量 检测样品：外置电源能源消耗和性能测试 标准：外置电源能源消耗和性能测试 AS/NZS 4665.1:2005+A1:2009
检测项：功耗 检测样品：信息技术设备的功率消耗 标准：信息技术设备的功率消耗 测量方法 IEC 62018:2003 EN62018:2003
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
