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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:总碱度 检测样品:地下水、地表水、易容盐简项分析 标准:岩石矿物分析 第十三篇水分析 碱度的测定
检测项:钼的氧化物 检测样品:铜精矿 标准:岩石矿物分析钼矿石物相分析 DZG20-01-1991 (第37章十二P.597)
机构所在地:河北省三河市 更多相关信息>>
检测项:纤维成分(定量分析-机械拆分和化学分析) 检测样品:纺织品 标准:AATCC 20A-2011 纤维分析:定量
检测项:纤维成分(定量分析-机械拆分和化学分析) 检测样品:纺织品 标准:GB/T2910.1-2009 纺织品 定量化学分析 第1部分:试验通则
检测项:纤维成分(定量分析-机械拆分和化学分析) 检测样品:纺织品 标准:ISO 1833-1:2006 纺织品-定量化学分析 第1部分:测试的基本原理
机构所在地:江苏省江阴市 更多相关信息>>
检测项:磁性铁 检测样品:铜矿石、锌矿石、铅矿石 标准:《岩石矿物分析》第四版 第35章铁矿石分析 35.28物相分析
检测项:铁矿 物相 检测样品:矿石物相 标准:《岩石矿物分析》第四版 第35章铁矿石分析 35.28物相分析
检测项:铜矿 物相 检测样品:矿石物相 标准:《岩石矿物分析》第四版 第40章铜矿石分析 40.7物相分析
机构所在地:云南省玉溪市 更多相关信息>>
检测项:扫描电镜能谱定量分析 检测样品:电接触材料 标准:微束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012
检测项:铜 检测样品:电接触材料 标准:电触头材料化学分析方法 铜钨中铜含量的测定(碘量法) JB/T 4107.2-1999
检测项:镍 检测样品:电接触材料 标准:电触头材料化学分析方法 银镍中镍含量的测定(EDTA容量法) JB/T 4107.5-1999
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:定量分析 检测样品:纺织品 标准:纺织品 定量化学分析方法第6部分:粘胶、铜氨纤维、莫代尔或莱赛尔纤维和棉纤维混纺产品的含量分析(运用甲酸/氯化锌) ISO 1833-6:2007
检测项:定量分析 检测样品:纺织品 标准:纤维定性分析 AATCC 20-2011
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:2.定量分析二组份 检测样品:纺织品及服装 标准:混合纤维定量分析方法 第2部分 纤维含量分析 JIS L 1030-2-2005
检测项:2.定量分析二组份 检测样品:纺织品及服装 标准:织物定性分析方法 AATCC 20-2011
检测项:2.定量分析二组份 检测样品:纺织品及服装 标准:麻棉混纺产品定量分析方法显微投影法 FZ/T 30003-2009
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:分析式铁谱分析 检测样品:液体燃料、润滑剂及其他各种石油产品 标准:在用润滑油磨损颗粒试验法(分析式铁谱法)SH/T 0573-1993(2003)
检测项:光谱分析 检测样品:液体燃料、润滑剂及其他各种石油产品 标准:在用润滑油或在用液压油磨损金属污染物测试法(原子发射光谱法)ASTM D 6595-00(2005)
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:光谱分析 检测样品:钢铁及合金 标准:钢铁及合金光电发射光谱 分析法通则 GB/T 14203-1993
检测项:光谱分析 检测样品:钢铁及合金 标准:不锈钢和合金钢X射线荧光光谱分析标准检测方法 ASTM E 572-12
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:水分 检测样品:煅烧α型氧化铝 标准:氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分:300℃和1000℃质量损失的测定 GB/T 6609.2-2009
检测项:氧化钠 检测样品:氧化铝 标准:氧化铝化学分析方法 氧化铝杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 YS/T 630-2007
检测项:氧化钠 检测样品:氧化铝 标准:氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 氧化钠含量的测定 GB/T 6609.5-2004
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:破坏性物理分析 检测样品:半导体分立器件、集成电路、光电器件 标准:《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006
检测项:破坏性物理分析(DPA)的内部目检 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:电压降 检测样品:半导体分立器件、集成电路、光电器件 标准:《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>