失调/零点误差检测实验

结晶点

简介

结晶点(Crystalpoint) 结晶点指液体在冷却过程中，由液态转变为固态的相变温度。结晶点测试方法：双套管法结晶点测试仪器：结晶点测定仪查看详情>>

结晶点

简介

结晶点(Crystalpoint)

结晶点指液体在冷却过程中，由液态转变为固态的相变温度。

结晶点测试方法：双套管法

结晶点测试仪器：结晶点测定仪

检测标准

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结晶点

收起百科↑ 最近更新：2016年11月20日

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中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：圆度误差检测样品：机械、电气产品标准：产品几何量技术规范（GPS）形状和位置公差检测规定 GB/T1958-2004

检测项：圆度误差检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品标准：产品几何量技术规范（GPS）形状和位置公差检测规定GB/T1958-2004

检测项：位置误差检测样品：磁阻式步进电动机标准：磁阻式步进电动机通用技术条件JB/T10596-2006

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：失调电压Vos 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：线性误差EL 检测样品：晶体三极管标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：零栅压漏极电流（IDSS）检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

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中国船舶重工集团公司第七一五研究所校准/检测实验室

检测项：测量频率的均方根误差及测量范围；测量脉冲宽度的均方根误差及测量范围；测量重复周期的均方根误差及测量范围检测样品：电子电工产品标准：声纳通用规范 GJB22A-2011

检测项：发射脉冲宽度及误差检测样品：声纳设备标准：声纳通用规范 GJB22A-1999

检测项：测向均方根误差检测样品：声纳设备标准：声纳通用规范 GJB22A-2008

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广东省无线电监测站

检测项：峰值码域误差（PCDE）检测样品：标准：

检测项：相位误差检测样品：CDMA1x基站标准：YDC 014-2008 《800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：基站子系统》 YDC 022-2008 《800MHz CDMA 1X 数字蜂窝移动通信网设备测试方法：基站子系统》

检测项：平均频率误差检测样品：CDMA1x基站标准：YDC 014-2008 《800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：基站子系统》 YDC 022-2008 《800MHz CDMA 1X 数字蜂窝移动通信网设备测试方法：基站子系统》

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：模拟乘法器标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T 14029-1992

检测项：部分参数检测样品：D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

检测项：部分参数检测样品：A/D转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996 ；

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

湖南航天管理局计量检测中心

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