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检测项：输入失调电压检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电压检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入失调电压检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入失调电压检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（电压比较器）标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路

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