霍尼韦尔（中国）有限公司安防质量实验室

检测项：识读部分功能 检测样品：彩色摄像机 标准：摄像机（PAL/SECAM/NTSC）测量方法 第一部分：非广播单传感器摄像机 GB/T 15865-1995

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：存储器 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中山亚萨合莱安防科技有限公司检测中心

检测项：部分项目 检测样品：电子防盗锁 标准：电子防盗锁 GA 374-2001

检测项：部分项目 检测样品：指纹防盗锁 标准：指纹防盗锁通用技术条件 GA 701-2007

机构所在地：广东省中山市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：直流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入箝位电压 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：出入目标识读装置功能 检测样品：安全防范系统 标准：安全防范工程技术规范GB 50348-2004 智能建筑工程质量验收规范GB50339-2003 入侵报警系统工程设计规范GB50394-2007 视频安防监控系统工程设计规范GB50395-2007 出入口控制系统工程设计规范GB50396-2007

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>