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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:连续加压通电试验 检测样品:临界温度热敏电阻器 标准:JB/T 9475-1999临界温度热敏电阻器
检测项:绝缘电阻试验 检测样品:电磁阀 标准:JB/T 7352-2010工业过程控制系统用电磁阀(6.3)
检测项:绝缘电阻 检测样品:临界温度热敏电阻器 标准:JB/T 9475-1999临界温度热敏电阻器
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:含油率 检测样品:纺织品 标准:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 GB/T 1410-2006
检测项:含油率 检测样品:纺织品 标准:织物表面电阻率 AATCC 76-2011
检测项:耐光色牢度 检测样品:纺织品 标准:纺织品 色牢度试验 耐光色牢度试验方法:氙灯 GB/T 8427-2008
机构所在地:浙江省绍兴市 更多相关信息>>
检测项:绝缘电阻可靠性测试 检测样品: 标准:绝缘电阻试验 JPCA-ET04-2007
检测项:绝缘电阻可靠性测试 检测样品:电工电子产品 标准:绝缘电阻试验 JPCA-ET04-2007
检测项:导通电阻可靠性测试 检测样品: 标准:导通电阻测试 IPC-9701A-February 2006
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:电阻率 检测样品:涂料性能 标准:GB/T 16906-1997 石油罐导静电涂料电阻率测定法
检测项:电阻率 检测样品:石油产品 标准:GB/T 16906-1997 石油罐导静电涂料电阻率测定法
检测项:涂料粘度 检测样品:石油产品 标准:Q/CC SY139-2010 涂料电阻测定法
机构所在地:河北省保定市 更多相关信息>>
检测项:铜箔电阻 检测样品: 标准:GB/T 4722-1992 第6章 铜箔电阻试验方法
检测项:绝缘电阻 检测样品:覆铜箔层压板 标准:GB/T 4722-1992《印制电路用覆铜箔层压板试验方法》 第12章平行层向绝缘电阻试验方法
检测项:表面电阻率 检测样品:覆铜箔层压板 标准:IPC-TM-650 《试验方法手册》2.5.17.1绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率(12/94 A版)
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:工业铂 热电阻 标准:JB/T 8622-1997《工业铂热电阻技术条件及分度表》
检测项:接地电阻 检测样品:汽车加油加气站防静电接地电阻 标准:GB50156-2002《汽车加油加气站设计与施工规范》GB50074-2002《石油库设计规范》
检测项:接地电阻 检测样品:液化石油气瓶充装站防静电接地电阻 标准:GB50156-2002《汽车加油加气站设计与施工规范》
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:温度 检测样品:间接电阻炉 标准:GB/T10066.4-2004 电热设备的试验方法 第4部分:间接电阻炉
检测项:温度均匀度 检测样品:间接电阻炉 标准:GB/T10066.4-2004 电热设备的试验方法 第4部分:间接电阻炉
机构所在地:广西壮族自治区桂林市 更多相关信息>>
检测项:绝缘电阻 检测样品:机床电气柜 标准:工业机械电气设备 绝缘电阻试验规范 GB/T 24343-2009
检测项:电压波动 检测样品:机床电气柜 标准:工业机械电气设备 绝缘电阻试验规范 GB/T 24343-2009
检测项:功率消耗 检测样品:机床电气柜 标准:工业机械电气设备 绝缘电阻试验规范 GB/T 24343-2009
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:耐湿 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:高温寿命 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:盐气 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:组份 检测样品:半导体材料 标准:高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 GB/T 24576-2009
检测项:外观 检测样品:LED照明产品 标准:微电子器件试验方法和程序 2009以及2016 GJB548B-2005;金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:总光通量 检测样品:发光二极管芯片 标准:微电子器件试验方法和程序2009以及2016; GJ/B548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>