家用电器、电动工具中交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度的检测

检测项：交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度 检测样品：家用电器、电动工具 标准：GB/T17626.13-2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电端口谐波、谐间波及电网信号低频抗扰度试验

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：小信号增益波长带宽 检测样品：光纤放大器（EDFA） 标准：光纤放大器试验方法基本规范 第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

检测项：小信号增益波长变化 检测样品：光纤放大器（EDFA） 标准：光纤放大器试验方法基本规范 第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

检测项：小信号增益、波道增益、最大多波道增益变化、多波道增益变化差、偏振相关增益和波道增加/移去增益响应（静态）（分立式RFA） 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T 14029-1992

检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：功能 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000；

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：开环性能（增益，带宽，失真，动态范围） 检测样品：RF器件 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2

检测项：开环性能（增益，带宽，失真，动态范围） 检测样品：CMOS集成电路 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2

检测项：信号增益、噪声系数 检测样品：RF器件 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4006.1

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：小信号带宽 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：1%矢量误差带宽 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：1%幅度误差带宽 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：信号带宽 检测样品： 标准：

检测项：占用带宽 检测样品：数字微波通信机 标准：EN 300198-2001《固定的无线电系统.点对点系统.在 23 GHz工作的数字信号传播系统参数》

检测项：占用带宽 检测样品：数字微波通信机 标准：《固定的无线电系统.点对点系统.在 23 GHz工作的数字信号传播系统参数》 ETSI EN 300 198 V1.5.1（2002-07）

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 GB/T 4937.2-2006 IEC 60749-2:2002

检测项：部分参数 检测样品：半导体分立器件发光二极管 标准：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 IEC 60747-10:1991

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

江苏中博通信有限公司通信产品质量检验站

检测项：工作波长和带宽 检测样品：光纤配线架（柜） 标准：YD/T 778-2011

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 检测样品：发光二极管 标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

检测项：峰值发射波长、光谱带宽、相对光谱功率分布 检测样品：普通照明用LED模块 标准：金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB 11378-2005 微电子器件试验方法和程序 2016 GJB548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：主波长和刺激纯度 检测样品：发光二极管芯片 标准：LED 测量 CIE 127:2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广州市光机电技术研究院检测技术服务中心

检测项：半强度带宽的中心波长 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：半光强处的光谱带宽 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：峰值波长 检测样品：LED 标准：LED的测量CIE127:2007

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>