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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心
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样品名称:CMOS集成电路
检测项目:开环性能(增益,带宽,失真,动态范围)
认可资质:CNAS CMA
检测标准:微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 开环性能(增益,带宽,失真,动态范围) CMOS集成电路