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检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：部分参数 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000
检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益 AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：增益 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 检测样品：工业、科学、医疗设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的 抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：开环电压增益AVO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项：电源电压 抑制比 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：开环电压增益 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项：开环性能（增益，带宽，失真，动态范围） 检测样品：RF器件 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
检测项：开环性能（增益，带宽，失真，动态范围） 检测样品：CMOS集成电路 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
检测项：差模开环电压增益AVD 检测样品：A/D 、D/A转换器 标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：模拟开关 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992
检测项：开环电压增益（误差放大器）AVD 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
