上海无委无线电检测实验室有限公司

检测项：开环输出功率范围 检测样品：cdma2000数字蜂窝移动台 标准：《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 015-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法：移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC 023-2006 《800MHz/2GH

检测项：饱和输出功率和饱和输出功率平坦度 检测样品：移动通信双工器 标准：《移动通信双工器电性能要求及测量方法》 GB/T 15491—2008 《无线双工移动通信系统中心台双工器通用规范》 GJB 3011-1997

检测项：HSDPA开环分集性能 检测样品：WCDMA数字蜂窝移动台 标准：《IMT蜂窝网络；覆盖RTTE指令第3.2章下协调EN的基本要求；第一部分：通用要求》 ETSI EN 301 908-1 V6.2.1 (2013-04)

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：部分参数 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000

检测项：老化 检测样品：数控机床 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1 老炼试验； 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法1038、1039、1040、1042 半导体

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：开环功率控制 检测样品：CDMA数字蜂窝移动台 标准：GSM/CDMA 1X双模数字移动台技术要求 YD/T 1394-2009

检测项：开环功率 检测样品：CDMA数字蜂窝移动台 标准：800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台 YDC 015-2006

检测项：上行开环功率控制 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝终端设备 标准：《2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求》 YD/T 1367-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：差模开环电压增益AVD 检测样品：A/D 、D/A转换器 标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：模拟开关 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：开环电压增益（误差放大器）AVD 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：开环差模输入电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：开环单端输出电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：开环电压增益 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：开环差模输入电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：开环单端输出电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：开环电压增益 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>