机械工业仪器仪表综合技术经济研究所测量控制设备及系统实验室

检测项：高温 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：湿热 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：振动 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：高温试验 检测样品：通用电子产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2030

检测项：高温试验 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：湿热试验 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：盐雾试验 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：冲击试验 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

检测项：碰撞 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2002.1 机械冲击 GJB548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2005 振动疲劳 GJB 548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2007 扫频振动 GJB 548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：恒温恒湿试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：微电子器件试验方法和程序 方法1010.1 温度循环 GJB 548B-2005

检测项：可焊性试验 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2030:芯片粘接的超声波检测 GJB 548B-2005

检测项：X射线照像 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法 2012.1：X射线照相 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省吴江市 更多相关信息>>

伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：外部目检 检测样品：电子元器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》 方法 2009.1 外部目检 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883E 1009.8

检测项：湿 热试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省焦作市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005 方法1015.1 微电路测试方法 MIL-STD-883H：2010 方法1015.10

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输入电流II 检测样品：电子元器件（物理试验） 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2068，方法2071

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：电子元器件（物理试验） 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2068，方法2071

检测项：电源电流IDD 检测样品：电子元器件（物理试验） 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2068，方法2071

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：品质因数 检测样品：元器件试验 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997 《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 《有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范》GJB 733A-1996 《军用电子元器件破坏性

检测项：温度贮存 检测样品：元器件试验 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997 《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 《有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范》GJB 733A-1996 《军用电子元器件破坏性

检测项：电压调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>