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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:低温试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
检测项:老炼试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1
检测项:温度冲击试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1010.1
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:焊接性能试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1014
检测项:放电试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1001
检测项:介质耐压 检测样品:电工电子产品 标准:GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1003
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:温度循环 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项:外部目检 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:老炼试验 检测样品:元器件 筛选 标准:《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项:温度循环 检测样品:元器件 筛选 标准:《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项:密封试验 检测样品:元器件 筛选 标准:《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:过负载试验 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
检测项:绝缘强度试验 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
检测项:机械寿命试验 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:高温 检测样品:电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 (环境试验) 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:湿热 检测样品:电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 (环境试验) 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:振动 检测样品:电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 (环境试验) 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:高温试验 检测样品:通用电子产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2030
检测项:高温试验 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
检测项:低温试验 检测样品:电子电器产品 标准:电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验A:低温 GB/T2423.1-2008
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测 检测样品:固定电阻器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 中方法1015A
检测项:粒子碰撞噪声检测 检测样品:固定电阻器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法2020A
检测项:检 漏 检测样品:固定电阻器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005中方法2020A
检测项:外部检查 检测样品:电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准:微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005
检测项:电性能测试 检测样品:橡胶及有关制品 标准:微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005 5003 微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006
检测项:电性能测试 检测样品:橡胶及有关制品 标准:微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:外部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》
检测项:内部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》
检测项:扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》