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温度冲击试验简介 热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。 温度冲击...查看详情>>
上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。
收起百科↑ 最近更新:2017年07月05日
机构所在地:浙江省杭州市
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》方法1010.1温度循环
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 方法1010.1温度循环
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命
机构所在地:江苏省连云港市
机构所在地:江苏省无锡市