温度循环试验和温度冲击试验都是电工电子类产品使用频次较高的两个气候环境适应性检测项目，主要考核产品或部件在温度急剧变化条件下的环境适应性能力。

一、温度循环试验

1、测试目的：温度循环试验主要用来确定设备在环境温度变化条件下的耐受能力。

2、测试状态：通电或不通电两种状态都有(依据产品而定)

3、测试参数：

a、高温温度点、低温温度点

b、试验样品在高温或低温温度点条件下持续时间

c、温度从高温到低温或从低温到高温的温度变化速率

d、试验循环次数

4、测试设备：

a、普通温度箱，可实现不带温度变化速率，或温变速率较慢如1℃/min变化速率的温度变化试验；

b、快速温变箱，可实现相关标准要求5℃/min,15℃/min,10℃/min的快速温度循环试验。

二、温度冲击试验

1、测试目的：主要是用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境快速变化时的环境适应性能力。

2、测试状态：样品通常不通电(依据产品而定)

3、测试参数：

a、高温温度点、低温温度点

b、试验样品在高温或低温温度点条件下持续时间

c、温度从高温到低温或从低温到高温的转换时间（一般转换时间为3min或5min）

d、温度冲击试验循环次数

4、测试设备：

a、可使用两个独立的温度试验箱进行人工或自动转换的方法，但这种方法对于循环次数多，温度点保持时间短的试验，操作起来比较麻烦，不能离开测试人员，耗费太多的人力。

b、使用一个温度冲击试验箱，也就是俗称一箱法，它通过转换高温风门和低温风门的方式来实现，这种方式简单便捷，通过设置试验箱程序就可以完成，不会占用测试人员的时间。

温度循环试验是规定温度变化速率，温度冲击试验是规定温度转换时间，温度循环试验多采用GB/T2423.22标准进行试验，温度冲击试验多采用GJB150.5A-2009和GB/T2423.22标准进行试验。