中国石油集团杭州地质研究所实验中心

检测项：结构、形貌分析 检测样品：岩石 标准：岩石样品扫描电子显微镜分析方法 SY/T 5162-1997（2005）

检测项：包裹体测温 检测样品：岩石 标准：沉积盆地流体包裹体显微测温方法 SY/T 6010-2011

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：破坏性物理分析 检测样品：半导体分立器件、集成电路、光电器件 标准：《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中冶建筑研究总院有限公司建筑钢材检测中心

检测项：硅（Si）、锰（Mn）、磷（P）、镍（Ni）、铬（Cr）、钼（Mo）、铜（Cu）、钒（V）、钴（Co）、钛（Ti）、铝（Al） 检测样品：金属材料化学成份 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：能谱分析 检测样品：金属材料化学成份 标准：束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

检测项：金相组织 检测样品：金属材料机械性能 标准：金属显微组织检验方法 GB/T 13298-1991

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：扫描电子显微镜检查 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：扫描电子显微镜检查 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：扫描电子显微镜检查 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

公安部上海消防研究所火灾物证鉴定中心

检测项：元素分析 检测样品：铜、铝导体残留物 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008

检测项：微观形貌 检测样品：铜、铝导体残留物 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心实验室

检测项：SEM形貌分析 检测样品：LED器件 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

深圳市华测检测技术股份有限公司上海分公司

检测项：石棉 检测样品：化妆品 标准：工艺产品中石棉含量的检测第一部分(取样和样品制备) VDI 3866:2000； 工艺产品中石棉含量的检测第五部分(扫描电子显微镜方法) VDI 3866:2004

检测项：石棉 检测样品：建筑材料、摩擦材料、密封材料、保温材料、非金属矿、橡胶材料、塑料制品、电子电器材料 标准：工艺产品中石棉含量的检测第一部分(取样和样品制备) VDI 3866:2000； 工艺产品中石棉含量的检测第五部分(扫描电子显微镜方法) VDI 3866:2004

检测项：纤维成分（定量分析－机械拆分和化学分析） 检测样品：纺织品及成衣 标准：纤维分析：定量 AATCC 20A-2011

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：扫描电子显微技术 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A低温GB/T 2423.1-2008

检测项：玻璃化转变温度 检测样品： 标准：塑料 差式扫描量热法(DSC)第二部分-玻璃化转变温度的测定 GB/T 19466.2-2004

检测项：熔融和结晶温度及热焓 检测样品： 标准：塑料 差式扫描量热法(DSC)第三部分-熔融和结晶温度及热焓的测定 GB/T 19466.3-2004

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

北京市医疗器械检验所

检测项：全部项目 检测样品：术中伽玛探测仪 标准：CRYSTAL Probe术中伽玛探测仪ADK-001-2007

检测项：全部项目 检测样品：计算机断层扫描激光乳腺诊断仪 标准：计算机断层扫描激光乳腺诊断仪 YZB/USA 699-24-2004

检测项：全部项目 检测样品：视网膜断层扫描仪 标准：海德堡视网膜断层扫描仪Ⅱ代Rostock角膜模块 　YZB/GVC 008-2004

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：扫描电子显微镜（SEM）检查 检测样品：半导体集成电路 失效分析 标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：扫描电子显微镜检测 检测样品：电子元器件及设备 物理性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4

检测项：扫描电子显微镜检测 检测样品：电子元器件及设备 物理性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>