挠性电路剥离强度检测实验

剥离强度

简介

剥离强度(Peelstrength) 曾称抗剥强度，是指每单位宽度所能承受的最大破坏载荷，是衡量线受力能力的，单位为kN／m。剥离强度测试仪器：伸长率试验机查看详情>>

剥离强度

简介

剥离强度(Peelstrength)

曾称抗剥强度，是指每单位宽度所能承受的最大破坏载荷，是衡量线受力能力的，单位为kN／m。

剥离强度测试仪器：伸长率试验机

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收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：老炼试验检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：基准电压（VREF）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：开环电压增益检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出漏电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：内部观测特征检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：动态参数检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：静态参数检测样品：线电路标准：半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 SJ/T 10803-1996

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：消耗电流检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输入失调电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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