中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：电源电流 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平阈值电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：动作电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：动作时间测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

肇庆中乔电气实业有限公司检测中心

检测项：曲挠试验 检测样品：电线电缆 标准：额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第2部分试验方法GB/T5023.2-2008

机构所在地：广东省肇庆市 更多相关信息>>

必维诚硕科技(上海)有限公司

检测项：电源端骚扰电压 检测样品：广播电视、电声设备 标准：《声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚挠特性限值和测量方法》GB13837-2003 5.3节 CISPR 13:2006 5.3节

检测项：骚扰功率 检测样品：家用电器 标准：《声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚挠特性限值和测量方法》GB13837-2003 5.6节 CISPR 13:2006 5.6节

检测项：辐射骚扰 检测样品：家用电器 标准：《声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚挠特性限值和测量方法》GB13837-2003 5.7节 CISPR 13:2006 5.7节

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：接触式IC卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

检测项：非接触式IC卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

检测项：双界面卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

许昌开普检测技术有限公司开普实验室

检测项：部分参数 检测样品：控制电路电器 标准：GB 14048.5-2008低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器

检测项：全部参数 检测样品：电力系统二次电路用控制及继电保护屏（柜、台） 标准：JB/T 5777.2-2002电力系统二次电路用控制及继电保护屏（柜、台）通用技术条件

检测项：全部参数 检测样品：镶嵌式控制屏及模拟屏 标准：JB/T 5777.3-2002电力系统二次电路用控制及继电保护屏（柜、台）基本试验方法

机构所在地：河南省许昌市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>