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检测项：噪声系数 检测样品：放大器 标准：GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：低电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输入失调电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：电源电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项：线路输出阻抗 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项：线路负载阻抗 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项：部分参数 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
机构所在地：广东省江门市 更多相关信息>>
检测项：释放电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项：吸合时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项：释放时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：差分放大器的输出电压范围（仅直流测试） 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：集电极-基极击穿电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：高电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：漏极截止电流IDSS 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
