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温度冲击试验简介 热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。 温度冲击...查看详情>>
上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。
收起百科↑ 最近更新:2017年07月05日
检测项:反向截止电流ICEO 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:反向漏电流Ir 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
机构所在地:北京市
检测项:部分参数 检测样品:荧光灯用交流电子镇流器 标准:钨丝灯用直流/交流电子降压转换器 性能要求 GB/T 19654-2005 IEC 61047:2004 EN 61047:2004
检测项:部分参数 检测样品:钨丝灯用直流/交流电子降压转换器 标准:钨丝灯用直流/交流电子降压转换器 性能要求 GB/T 19654-2005 IEC 61047:2004 EN 61047:2004
检测项:部分参数 检测样品:荧光灯用交流电子镇流器 标准:管形荧光灯用交流电子镇流器 性能要求 GB/T 15144-2009 IEC 60929:2006 EN 60929:2006
机构所在地:广东省佛山市
机构所在地:广东省深圳市
检测项:谐波电流 检测样品:低压电子及电子设备 (谐波电流) 标准:低压电子及电子设备发出的谐波电流限值 (设备每项输入电流小于等于16A) DIN EN 61000-3-2:2010
机构所在地:上海市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:北京市