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检测项:静区反射率 电平 检测样品:微波天线暗室 标准:GJB6780-2009微波暗室性能测试方法
检测项:浪涌冲击 检测样品:电视和声音信号电缆分配系统(部分项目) 标准:GB 13836-2000,IEC 60728-2:2010,IEC 61000-3-2:2009 :电视和声音信号电缆分配系统第2部分设备的电磁兼容
检测项:有源设备的辐射测量 检测样品:电视和声音信号电缆分配系统(部分项目) 标准:GB 13836-2000,IEC 60728-2:2010,IEC 61000-3-2:2009 :电视和声音信号电缆分配系统第2部分设备的电磁兼容
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:电平衡 检测样品:原油集输系统效率测试 标准:SY/T5264-2006 油田生产系统能耗测试和计算方法
检测项:电平衡 检测样品:原油集输 系统 标准:油田生产系统能耗测试和计算方法SY/T5264-2006
检测项:电参数(输入功率、电流、电压、功率因数) 检测样品:机械采油井系统效率 标准:SY/T5264-2006 油田生产系统能耗测试和计算方法
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:噪声电平 检测样品:红外乳腺检查仪 标准:红外乳腺检查仪 YY0324-2008
检测项:噪声电平 检测样品:红外乳腺检查仪 标准:红外乳腺检查仪YY0324-2008
检测项:环境要求 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件JB/T 7411-2012
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法JB/T 9214-2010 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件JB/T 10061-1999
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:热效率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:能源利用率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:用电量 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制 检测样品:GSM直放站 标准:《 900/1800 MHzTDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项:自动电平控制 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241—2002
检测项:峰值功率谱密度 检测样品:GSM直放站 标准:《 900/1800 MHzTDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出逻辑电压电平 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路