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检测项:反向漏电流 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:稳压管工作 电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:稳压管动态 电阻 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
机构所在地:四川省成都市
检测项:晶粒尺寸 检测样品:植物多晶体 标准:纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X 射线衍射线宽化法 GB/T 23413-2009 转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
机构所在地:北京市
检测项:正向电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条
检测项:工作电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条
检测项:微分电阻 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条
机构所在地:江苏省南京市
机构所在地:北京市