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检测项:集电极暗电流 检测样品:半导体分立器件 标准:电能表用元器件技术规范 第4部分:光电耦合器 Q/GDW 11179.4-2014 6.2.3
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
机构所在地:北京市
检测项:集电极-发射极暗电流 检测样品:光电耦合器 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
检测项:集电极-基极暗电流 检测样品:晶体三极管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:集电极-发射极暗电流 检测样品:光电耦合器 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
机构所在地:上海市
机构所在地:广东省深圳市