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检测项：部分参数 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
检测项：部分参数 检测样品：食品中真菌毒素限量 标准：食品中农药最大残留限量 GB 2763-2005
检测项：部分参数 检测样品：食品中污染物限量 标准：食品中农药最大残留限量 GB 2763-2005
机构所在地：广东省江门市 更多相关信息>>
检测项：最大输出电流和功率 检测样品：固定电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：最大输出 电压 检测样品：电工电子产品（可靠性） 标准：信息终端设备声压输出限值要求和测量方法 YD/T 1884-2009
检测项：最大输出 电压 检测样品：电工电子产品（可靠性） 标准：音响系统设备:与便携音响设备相应的耳机和头戴式耳机.最大声音压力水平测量方法和限制考虑.第2部分:耳机或设备单独提供 EN50332-2:2003
检测项：静电放电抗扰度 （ESD) 检测样品：通信设备(电磁兼容EMC) 标准：电磁兼容性和射频频谱事务(ERM).短程无线电设备(SRD).频率范围25 MHz～1000 MH带500 mW以下(含)功率电平的无线电设备.第1部分技术特征和试验方法 ETSI EN 300 220-1 V2.4.1
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：极限高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输入电平适应性 检测样品：干扰激励器 标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范
检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范
检测项：反向辐射电平 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范
机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项：输入电流 检测样品： 标准：
检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
