艾默生网络能源（西安）有限公司测试部实验室

检测项：最大输出电流，电压，伏安测试 检测样品：信息技术设 备（安全） 标准：CSA-C22.2 No. 60950-1-07/IEC/EN/UL 60950-1：2011 信息技术设备-安全-第一部分：通用要求

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术类设备，通信网络设备（EMC） 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术类设备，通信网络设备（EMC） 标准：IEC 61000-3-2：2009 低压电气及电子设备发出的谐波电流限制（设备每相输入电流≤16A）

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

福建省电子产品监督检验所（福建省软件评测中心）

检测项：线性输入电平 检测样品：收录音机 标准：磁带录音机基本参数 和技术条件 GB/T 2019-87 录音广播接收机基本参数 GB/T 9374-88

检测项：线性输出电平 检测样品：单面纸质 印制 标准：单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90

检测项：最大声压级 检测样品： 标准：

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入低电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输出高电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输入高电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输入低电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输入高电平电流 检测样品：半导体集成接口电路线电路 标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

天津市产品质量监督检测技术研究院

检测项：部分参数 检测样品：自动电话机 标准：自动电话机技术条件GB/T15279-2002

检测项：部分参数 检测样品：商用多用途电平锅 标准：家用和类似用途电器的安全 商用多用途电平锅的特殊要求 GB4706.40-2008 IEC60335-2-39：2004

检测项：部分参数 检测样品：合成切削液 标准：合成切削液 GB/T6144-2010

机构所在地：天津市 更多相关信息>>