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质谱仪产品描述:通常由进样模块、离子化模块、检测模块、真空泵模块、信号放大模块、软件、计算机系统等组成。原理一般为将样品转化为运动的离子碎片,在磁场/电场中按核质比大小进行分离,从而达到分析的目的。 质谱仪预期用途:用于临床上对被测物进行鉴别及检测。 质谱仪品名举例:三重四极杆质谱仪、液相色谱串联质谱系统、质谱仪 质谱仪管理类别:Ⅱ 质谱仪...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月31日
检测项:镉 检测样品:铁矿石 标准:《有色地质分析规程 氨水-氯化铵底液极谱法》 YD2.5.5-1991
检测项:侵蚀二氧化碳 检测样品:水和废水 标准:《水和废水监测分析方法》(第四版)酚酞指示剂滴定法
机构所在地:四川省成都市
检测项:密炼室、转子、压坨内腔水压试验 检测样品:密闭式炼胶机炼塑机 标准:《密闭式炼胶机炼塑机》 GB/T 9707-2010 《密闭式炼胶机炼塑机检测方法》HG/T2148-2009
检测项:开炼机辊筒 硬度 检测样品:开放式炼胶机炼塑机 标准:《开放式炼胶机炼塑机》 GB/T 13577-2006 《开放式炼胶机炼塑机检测方法》HG/T2149-2009
检测项:开炼机辊筒白口深度 检测样品:开放式炼胶机炼塑机 标准:《开放式炼胶机炼塑机》 GB/T 13577-2006 《开放式炼胶机炼塑机检测方法》HG/T2149-2009
机构所在地:广西壮族自治区桂林市
检测项:特征频率fT 检测样品:双极型晶体管 标准:1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
检测项:噪声系数F 检测样品:双极型晶体管 标准:1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
检测项:S参数 检测样品:双极型晶体管 标准:1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:零栅压漏极电流 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:输入二极管正向电压 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
检测项:输入二极管反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
机构所在地:江苏省扬州市