中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条

检测项：门极触发电压 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：正向电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994

检测项：导通电阻RON 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 . 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：导通电阻路差 △Ron 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

检测项：正向阈值电压下的输入电流IT+ 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：共发射极正向电流传输比h21E 检测样品：三极管 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管GB/T4023-1997

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：（5）非线绕精密电位器总规范 GJB 1865-1994

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体光电子器件分规范（可供认证用） GB 12565-1990

检测项：正向电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 、 方法4016

检测项：正向栅源漏 电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：正向压降 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-2006 半导体器件分立器件和集成电路总规范

检测项：导通电阻Ron 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>