惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：正向电压(VF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：国际照明委员会技朮报告 LED测量 CIE127-2007

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

广州市光机电技术研究院检测技术服务中心

检测项：正向电压 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：正向电流 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：电压 检测样品：LED灯具 标准：整体式LED路灯的测量方法LB/T 001-2009

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

潍坊半导体照明产品检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体二极管测试方法 SJ/T 11394-2009

检测项：反向电压 检测样品：灯和灯系统 标准：灯和灯系统的光生物安全性 GB/T 20145-2006

机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

西北机电工程研究所检测和校准实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《高稳定薄膜固定电阻器总规范》 GJB 1929-1994

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《片式膜固定电阻器通用规范》 GJB 1432B-2009

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条

检测项：门极触发电压 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：正向电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994

检测项：导通电阻RON 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 . 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：导通电阻路差 △Ron 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>