中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997《半导体器件:分立器件和集成电路 第2部分: 整流二极管》 GB/T6571-1995 《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：正向压降 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：正向栅源漏电流 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入正向阈值电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.4条

检测项：输入钳位电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005 方法2015.1

检测项：输入钳位电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法2015.13

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：正向电压（VF） 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：正向压降 （VF ） 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：正向栅源漏电流（IGSSF） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：正向直流电压VF 检测样品：二极管 标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

检测项：正向跨导gfs 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：正向栅源漏电流Igssf 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向压降 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

富士康（昆山）电脑接插件有限公司实验室

检测项：正向力 检测样品：电子及电气零组件 标准：电气连接器正向力测试程序 EIA-364-04A-2002

检测项：正向力 检测样品：电子及电气零组件 标准：汽车电气连接器系统性能规范 SAE/USCAR-2-2007 section5.7.1

检测项：耐电压 检测样品：电子及电气零组件 标准：电子及电气零组件测试方法 MIL-STD-202G-2002

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

富港电子（东莞）有限公司Foxlink实验室

检测项：正向力 检测样品：连接器产品 标准：EIA-364-04A：2009 电子连接器正向力测试

检测项：正向力 检测样品：连接器产品 标准：电子连接器正向力测试 EIA-364-04A：2002(R2009)

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

富港电子（昆山）有限公司Foxlink实验室

检测项：正向力 检测样品：塑料材料 标准：EIA-364-04A-2002 电子连接器正向力测试

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

连展科技（深圳）有限公司检测中心

检测项：正向力 检测样品：电子 连接器 标准：电子连接器正向力测试方法EIA-364-04A-2002

检测项：耐电压 检测样品：电子 连接器 标准：电子连接器，插座和同轴接触器耐电压测试方法EIA-364-20D-2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>