润滑剂极压性检测实验

耐候性

简介

耐候性(Weatherability) 材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱查看详情>>

耐候性

简介

耐候性(Weatherability)

材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。

耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟

耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱

检测项目

耐候性

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：零栅压漏极电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：集电极-发射极饱和电压Vces 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：基极-发射极饱和电压Vbes 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：零栅压时的漏极电流IDDS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国石油天然气股份有限公司新疆油田分公司实验检测研究院

检测项：压裂液流变参数检测样品：水基压裂液标准：SY/T 5107-2005 水基压裂液性能评价方法

检测项：压裂液交联时间检测样品：水基压裂液标准：SY/T 5107-2005 水基压裂液性能评价方法

检测项：压裂液耐温能力检测样品：水基压裂液标准：SY/T 5107-2005 水基压裂液性能评价方法

机构所在地：新疆维吾尔自治区克拉玛依市更多相关信息>>

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山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：B4分组可焊性检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：可焊性检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：B4分组可焊性检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

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武汉钢铁（集团）公司能源试验研究中心

检测项：极间绝缘电阻检测样品：耦合电容器和电容式电压互感器的电容分压器标准：电力设备预防性试验规程DL/T 596-1996电气装置安装工程电气设备交接试验标准GB50150-2006

检测项：极间绝缘电阻检测样品：耦合电容器和电容式电压互感器的电容分压器标准：电力设备预防性试验规程DL/T 596-1996电气装置安装工程电气设备交接试验标准GB50150-2006

检测项：极对壳绝缘电阻检测样品：高压并联、串联和交流滤波电容器标准：电力设备预防性试验规程DL/T 596-1996

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：零栅压漏极电流检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：输入二极管正向电压检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：输入二极管反向电流检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：零栅压漏极电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：门极触发电压检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：零栅压漏极电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：正向压降检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：截止态漏极漏电流检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：截止态源极漏电流检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：正向压降检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：正向压降检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：动态电阻检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：集射极饱和压降检测样品：晶体管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3071

检测项：漏极反向电流检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

检测项：漏极反向电流检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3415.1

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

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