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温度冲击试验简介 热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。 温度冲击...查看详情>>
上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。
收起百科↑ 最近更新:2017年07月05日
检测项:温度变化试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》
检测项:温度变化试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB360A-1996《电子及电气元件试验方法》
检测项:温度变化试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB1032-1990《电子产品环境应力筛选方法》
机构所在地:江苏省南京市
检测项:温度冲击试验 检测样品:电子及电气元件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
检测项:温度循环 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:温度变化试验 检测样品:军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准:《军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验》 GJB 150.5A-2009
检测项:温度变化试验 检测样品:军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准:《电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化》 GB/T 2423.22-2002
检测项:温度变化试验 检测样品:军用及民用电子产品、 电气产品、 机械产品、 机电产品 标准:《军用通信设备通用规范》 GJB 367A-2001 4.7.31
机构所在地:北京市
检测项:温度冲击试验 检测样品:电子产品 标准:循环温度湿度偏压寿命试验JESD22-A100C-2007
检测项:温度循环试验 检测样品:电子产品 标准:热冲击试验 JESD22-A106B-2004
检测项:温度循环试验 检测样品:电子产品 标准:环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012
机构所在地:广东省佛山市