中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：结栅型的栅极截止电流 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：漏极截止电流 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：绝缘栅型的栅极漏泄电流 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止电流 检测样品：场效应管IGBT 标准：半导体分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：漏极截止电流 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：漏极截止电流 检测样品：二极管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4023-1997 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路） 检测样品：CMOS集成电路 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：漏-源通态电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：正向栅源漏 电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：反向栅源漏 电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

河北省产品质量监督检验院

检测项：部分项目 检测样品：剩余电流动作断路器 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO) 第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003

检测项：部分项目 检测样品：用于交流和直流的断路器 标准：用于交流和直流的断路器GB 10963.2-2008

检测项：部分项目 检测样品：带电作业用便携式接地和接地短路装置 标准：带电作业用便携式接地和接地短路装置 DL/T 879-2004

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

杭州中检电气研究院有限公司

检测项：浪涌电流时的性能 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：GB16917.1-2003 IEC61009-1:1996,MOD 家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB16917.21-2008 IEC61009-2-1:1991,IDT 家用和类似用途的带过电流保护

检测项：三极或四极RCBO通以单相负载时过电流的极限值 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：GB16917.1-2003 IEC61009-1:1996,MOD 家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB16917.21-2008 IEC61009-2-1:1991,IDT 家用和类似用途的带过电流保护

检测项：在40℃时的可靠性 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：GB16917.1-2003 IEC61009-1:1996,MOD 家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB16917.21-2008 IEC61009-2-1:1991,IDT 家用和类似用途的带过电流保护

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

浙江天正电气股份有限公司检测中心

检测项：部分 项目 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB） 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB）第1部分：一般规则 GB16916.1-2003 IEC61008-1:1996

检测项：部分 项目 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB） 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB）第2.1部分：一般规则对动作功能与线路电压无关的RCCB的适用性 GB16916.21-2008 IEC1008-2-1:1990

检测项：部分 项目 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO）第1部分：一般规则 GB16917.1-2003 IEC61009-1:1996

机构所在地：浙江省乐清市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：栅极漏泄电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：栅极漏电流 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：漏－源击穿电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向截止电流 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法SJ2215.9-1982

检测项：C、B截止电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

检测项：E、B截止电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>